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带宽测试 Bandwidth（BW）
带宽测试技术（Bandwidth，简称BW）通过测量以光或者电为调制对象的高频小信号在经过待测器件后的线性传输和反射特性，来测量半导体芯片或者器件的频带宽度。该测试系统每个时刻都在进行精确的频率扫描，测试链路经过精密的校准后，最终可以通过数据分析获取器件自身的频率响应曲线。带宽测试是用来检测芯片/器件级光电信号传输完整性的重要分析技术。
用途
Transmitter（E/O）带宽测试；
Receiver（O/E）带宽测试；
Electronic devices（E/E）带宽测试。
— 技术特点

  • DUT 多样化，涵盖wafer / die /package等芯片形式；

  • 带宽最高支持110 GHz。

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