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X射线光电子能谱 X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)
X射线光电子能谱(X-ray photoelectron spectroscopy,简称XPS)是一种基于光电效应的高灵敏度表面定量能谱技术,用于测定材料中的元素组成、化学态以及元素的化学态和电子态。这种技术用X射线照射所要分析的材料,同时测量从材料表面以下1~10纳米范围内逸出电子的动能和数量,从而得到X射线光电子能谱。该技术可用于材料表面的元素组成的轮廓分析,或与离子束蚀刻配合使用时的深度轮廓分析。
用途
元素定性/定量分析(锂-铀);
固体表面分析(化学组成,原子价态,表面能态分布);
化合物结构鉴定,提供化学键和电荷分布的信息;
通过Ar离子束深度剖析获得深入的成分信息。
技术特点
  • X射线聚焦束斑直径:7.5 ~ 400 μm连续可调;

  • 扫描分析面积可达:7.5×7.5 ~1400×1400 μm2

  • 能够检测锂-铀范围内的所有元素,能量扫描范围0-3200 eV;

  • 最佳能量分辨率和灵敏度:半峰宽≤0.45 eV时,峰强度≥200 kcps;

  • 样品尺寸: 50 mm;

  • 可以提供有关元素结合状态的信息,揭示给定元素的XPS光谱的精细结构;

  • 可以获得元素深度剖面图。